Généralités sur le test des semi-conducteurs

Généralités sur le test des semi-conducteurs

OUTILS DE SUPERVISION : STDF

Plusieurs instruments informatiques interviennent dans la supervision du test électrique. Durant notre projet, nous nous interesserons aux fichiers STDF.L’abréviation STDF veut dire Standard Test Data Format, est un concept inventé et lancé en 1985 par le Géant mondiale Américain du test des composants électroniques nommé Teradyne. Actuellement mis en place par plusieurs fabricants des testeurs exemple : Verigy, Credence, Ltx. Au début, le STDF a été développé et conçu par Teradyne pour des testeurs qui traitent avec Unix comme Système opératoire seulement.Actuellement tout type de technologie pourra développer ses propres applications selon ses besoins et ses usages et générera des rapports standards, utilisables et facilement gérables malgré la distinction des technologies. Il s’agit donc, d’un ensemble de rapports exploitables (figure 14 et 15) et permettant une traçabilité efficace pour les composants déjà fabriqués et vendus aux clients ci-dessous les différents rapports qu’on peut en extraire.

 Utilité des fichiers STDF
Les fichiers STDF constituent une image virtuelle des pièces produites et livrées aux clients, on peut en servir lors des investigations pour comprendre l’origine des non-conformités dues à un défaut de fabrication s’il a eu lieu, comme ils sont d’une grande utilité pour améliorer les process de fabrication (souvent utilisés en ingénierie), finalement son utilité permet le passage des investigations de simulation au concret.

Guide du mémoire de fin d’études avec la catégorie Généralités sur le test des semi-conducteurs

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Table des matières

Dédicaces
Remerciements:
Résumé
Abstract
Liste des figures
Liste des tableaux
Liste des abréviations
Introduction générale
CHAPITRE I : PRESENTATION DE STM
Introduction :
I. STMicroelectronics : Historique
II. Le groupe STMicroelectronics
1. Caractéristiques des produits semi-conducteurs
2. Segments de produits et marchés servis
3. Un leadership mondial
4. Secteurs/ Pôles d’activité de l’entreprise STMicroelectronics
5. Les grandes étapes de fabrication des semi-conducteurs
III. STMicroelectronics Bouskoura
1. Organisation du site STMicroelectronics Bouskoura
2. Produits Fabriqués par STM Bouskoura
3. Processus de fabrication général de l’usine bouskoura be :
IV. La ligne WATT
1. Gestion de la ligne WATT
2. Service d’accueil
3. Description de la zone test & finishing de la ligne WATT
Conclusion
CHAPITRE II : CONTEXTE DU PROJET
Introduction
I. Problématique
II. Cahier de charges
III. Planning du projet
Conclusion
CHAPITRE III : ETUDE PRELIMINAIRE
Introduction
I. Généralités sur les amplificateurs audio
1. Fonctionnement
2. Les classes d’amplificateurs
II. Généralités sur le test des semi-conducteurs
1. Description du test électrique
2. Équipements indispensables à l’opération
a) Le testeur
b) Handler
c) Jig.
3. Outils de supervision
Conclusion
CHAPITRE VI : ETAIT DES LIEUX
Introduction
III. Identification de la problématique du sujet
1. L’outil de qualité QQOQCP
2. Méthode QQOQCP
II. Définition du périmètre d’action 
1. METHODE ABC – Loi de Pareto
a) Le diagramme de Pareto outil de la qualité
b) Construction du diagramme de Pareto
2. Analyse Pareto :
a) Analyse Pareto des défauts
b) Analyse PARETO des pièces
III. Recherche des Causes probables du PROBLÈME
1) Méthode d’ ISHIKAWA
a) Diagramme d’ ISHIKAWA, qu’est–ce que c’est?
b) Les règles d’or
c) Déroulement du diagramme d’ ISHIKAWA
2) Brainstorming
3) Diagramme D’ISHIKAWA: Conclusion
CHAPITRE V : PLAN D’ACTION 
Introduction
I. Démarche DMAIC :
II. L’amplificateur audio TDA7377
1. Define
a) La Méthode QQOQCP :
b) Description de l’amplificateur audio TDA7377
c) Définition des défauts paramétriques les plus fréquents
2. Mesure
a) Etude du défaut paramétrique «dB Gv OUTL @ 20V »
b) Distribution du défaut « dB Gv OUTL @20V »
3. Analyse
a) Recherche des causes possibles du défaut « dB Gv OUTL @20V »
b) Identification du défaut « dB Gv OUTL @ 20V » :
4. Improve
a) Elaboration d’un plan d’action
b) Application du plan d’action
5. Control
1 a) Evolution du rendement après l’implantation des solutions
b) Etude financière
III. L’amplificateur audio STA540 
1) Define
a) La Méthode QQOQCP
b) Description de l’amplificateur audio STA 540
c) Définition des défauts paramétriques les plus défaillants
2) MESURE
d) Introduction
e) Généralités sur la résistance thermique
d) Etude du défaut paramétrique «mV RTH OUTx »
e) Distribution du défaut « mV RTH OUTx »
3) Analyse
a) Recherche des causes possibles du défaut « mV RTH OUTx » de la race STA540
b) Identification du défaut paramétrique « mV RTH OUTx »
c) Processus du die attach
4) Improve
a) Elaboration d’un plan d’action:
b) Application du plan d’action :
5. Control
a) Evolution du rendement après l’implantation des solutions b) Actions préventives
Conclusion générale
Annexes
Annexe 1 : Cahier de charge la race L022
Annexe 2 : Cahier de charge de la race L690 Annexe 3 : Schéma du Jig de la race L022
Références bibliographiques .

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